Configuratore

1° STEP: SELEZIONARE IL FRAME

Compact (1 modulo) 200x300mm

Compact (2 moduli) 450x400mm

Compact (3 moduli) 550x450mm

2° STEP: SELEZIONARE MODULO MISURA

Ampia gamma di nanoindentatori (NIOS)

Tester nanomeccanico a scansione

Microscopio a Forza Atomica

Microscopio Ottico

3° STEP: PIANO PORTACAMPIONI

XY Motorizzato

XY Manuale

4° STEP: ESTENSIONI

XYZ stage a scansione

Sensore forza laterale

Stage riscaldato

Unità estensione carico

5° STEP: ACCESSORI

Connessione cella vuoto

Probe AFM

Indentatori

UNITA’ E SENSORI ADDIZIONALI

I tester Nano meccanici NIOS dispongono di molti sensori e unità addizionali. Queste estendono le funzionalità del sistema di misura e garantiscono il massimo livello configurazione in grado di soddisfare le necessità applicative.
La configurazione finale del sistema di misura dipende dagli obiettivi di ricerca. Per poter supportare obiettivi di ricerca inusuali è possibile creare una nuova unità, modificarne una esistente anche installando sul NIOS unità di altri produttori.

Sensore forza laterale:
Misure di forza laterale durante sclelometria e abrasione policiclica.
Misure coefficiente di Frizione durante test tribologici

Unità di scansione in-situ:

  • SPM Mode per una visualizzazione topografica di superfice con indenter in diamante.

Stage riscaldato:

  • Temperatura max : 400 °C
  • Velocità riscaldamento: 1 °C/s
  • Stabilizzazione Temperatura: 0.1 °C
  • Dimensione max (WxLxH): 25x25x10 mm

Modulo di misura proprietà elettriche:

  • Caratteristiche Corrente-voltaggio e misure diffusione di corrente durante test meccanici

Poratcampioni

  • Morsetti
  • Clamps
  • Supporti
  • celle vuoto

Tavolo rotante:

  • Ricerca asinotropia delle proprietà meccaniche
  • Funzionalità estese del posizionamento campione

INDENTATORI E STANDARDS

INDENTATORI:

  • Punte indentatori realizzati con diamanti sintetici monocristallini di alta qualità, sia puri o dopati.
  • Piramide Berkovich triangolare
  • Piramide Knoop quattro lati
  • Piramide Vickers quattro lati
  • Punzone piatto con diametro da 50 μm to 2 mm
  • Punta sferica con raggio noto

Campioni di riferimento (standards):
I campioni di riferimento (RS) sono prodotti da materiali noti con speciale preparazione della superfice. I materiali di riferimento vengono utilizzati per calibrare i sistemi NIOS e certificare la conformità con gli standard normativi di riferimento. Ogni materiale ha un certificato contenete le caratteristiche metrologiche standard, istruzioni d’utilizzo, condizioni di trasporto e conservazione.

POLICARBONATO
Caratteristiche di riferimento:

  • Durezza: 0.21 ± 0.02 GPa
  • Modulo elastico( Young’s modulus): 3 ± 0.3 GPa
  • Rugosità: <5 nm
  • Dimensioni: 10x10x7 mm
  • Preparazione superfice: —

ALLUMINIO
Caratteristiche di riferimento:

  • Durezza: 0.5 ± 0.1 GPa
  • modulo elastico: 70.0 ± 7.0 GPa
  • Rugosità: <5 nm
  • Dimensioni: 10x10x8 mm
  • Preparazione superfice: lucidatura, etching elettrolitico

SILICE SUSA
Caratteristiche di riferimento:

  • Durezza: 9.5 ± 1.0 GPa
  • Modulo elastico: 72,0 ± 3,0 GPa
  • Rugosità: <5 nm
  • Dimensioni: 7x10x4 mm
  • Preparazione superfice: profonda levigatura

ZAFFIRO
Caratteristiche di riferimento:

  • Durezza: 24.5 ± 2.5 GPa
  • modulo elastico: 415.0 ± 35.0 GPa
  • Rugosità: <5 nm
  • Dimensioni: 25x5 mm
  • Preparazione superfice: Lucidatura EPI

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