Caratteristiche tecniche

Elevata risoluzione spettrale e imaging, grazie al particolare design dello spettrometro.
Il Particolare design dello spettrometro offre caratteristiche ideali pe misure di Raman confocale.
L’immagine del pinhole viene proiettata su un detector multicanale senza alcuna aberrazione.
La minor quantità di pixel illuminati sulla matrice CCD, porta ad una minor conteggio del fondo e ad un’elevata risoluzione spettrale.
Risoluzione Spettrale del RAMOS N500 con reticolo Echelle è 0,25 cm-1

Elevato segnale e sensibilità
La banda del Silicio di 4°ordine a 1940 cm-1 può essere osservata in meno di un minuto utilizzando un laser a bassa intensità.
Immagini 2D e 3D vengono acquisite con estrema rapidità.

Completamente automatizzato
Lo spettrometro RAMOS N500 è completamente automatizzato. Possono essere utilizzati fino a 5 sorgenti laser in un singolo sistema, il cambiodei reticoli e filtri è automatizzato gestito da software.
I laser possono essere selezionati in modo automatico semplicemente con un click senza necessità di allineamento.
Il controllo motorizzato gestisce la potenza del laser, l’orientamento della polarizzazione, le dimensioni del pinhole e la selezione del reticolo.

Design Confocale con cross-slit variabile

Elevata risoluzione spaziale
Il microscopio Raman Confocale N500 è in grado di raggiungere risoluzioni laterali vicino al limite teorico.

Laser wavelenght, nm Objective XY - plane resolution, nm
488 100x, NA = 0.9 250
532 100x, NA = 0.9 275
633 100x, NA = 0.9 320
785 100x, NA = 0.9 390

Risoluzione assiale (in profondità, 100x, NA= 0.9

Laser wavelenght, nm Z (axial) resolution, nm
488 520
532 560
633 660
785 800

Range Raman shift con filtri Edge

Laser wavelenght, nm Wavenumber range, cm-1
325 125 - 8000
355 115 - 8000
473 80 - 6000
532 50 - 8000
633 50 - 6000
785 40 - 2800

Misure in bassa frequenza Raman shift possono essere espanse utilizzando filtri Bragg Notch

IMAGING RAMAN ULTRAVELOCE

Il microscopio confocale Raman RAMOS N500, consente l’acquisizione di due immagini in una sola scansione:
Un’immagine Rayleigh (attraverso la luce laser riflessa dal campione) e una spettrale dello scattering Raman. L’opzione ultrafast imaging consente di acquisire l’immagine confocale in 3 sec. (3us/pixel). N500 effettua una scansione ultra rapida del raggio attraverso lo specchio Galvanometrico.
Lo scanner con specchio galvanometrico consente di realizzare mappatura senza perdita d’intensità dal centro dell’immagine ai bordi.

IMAGING VELOCE CON DETECTOR EMCCD/CCD

Il sistema RAMOS N500 utilizza diversi detector, fino a tre possono essere utilizzati simultaneamente.
Un algoritmo dedicato (proprietario) consente l’acquisizione dell’immagine Raman ad alta velocità con i detector CCD /EMCCD. L’utilizzo di un EMCCD (Elettro Multiplicatore CCD) incrementa significativamente l’efficienza e la velocità.

SOFTWARE CON FUNZIONALITA ANALITICHE

Ampie dimensioni dell’area di scansione con modulo a specchio galvanometrico:

  • 150umx150um (obiettivo 100x)
  • 320umx300um (obiettivo 40x)
  • 60umx680um (obiettivo 20x)

Il piano automatico XYZ può essere utilizzato per un imaging ad area ultra ampia.
L’immagine panoramica (hiper image) ottenuta con mosaico composto da serie di immagini acquisite con l’utilizzo dello scanner galvanometrico.

Calibrazione dello spettrometro ad elevata precisione

Il sistema RAMOS N500 è equipaggiato di una sorgente NEON per la calibrazione spettrale.
La calibrazione di ogni singola lunghezza d’onda si ottiene semplicemente con un click del software.

Altre funzioni

  • Il microscopio può essere equipaggiato con piano riscaldato/raffreddato, celle in vuoto o alta pressione
  • Sonde a fibre ottiche per campionamenti remoti

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