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Tester Nanomeccanici, Indentatori e AFM

NIOS: Serie di Tester nanomeccanici per la caratterizzazione dei materiali, coatings e film sottili.
Una vasta gamma di indentatori, tra cui quelli in diamante che consentono la visualizzazione della deformazione del materiale durante la fase di indentazione. Le piattaforme, completamente configurabili in funzione delle esigenze applicative ed espandibili per esigenze future, includono oltre agli indentatori, la Microscopia Forza atomica, interferometri, moduli nanomeccanici e microscopia ottica.
Tra i moduli disponibili sono presenti; Indentatori, per misure di adesione, rigidità, durezza e mappatura del modulo elastico; Microscopia Ottica, per la visualizzazione del area di analisi, analisi dimensionale dell’impronta d’indentazione, analisi delle particelle; Tester nanomeccanico, per analisi delle proprietà meccaniche sotto carico (fino a 100mN); Interferometro laser Heterodyne a 3 assi, per misure metrologiche, dimensionali su scala nanometrica; Microscopio a Forza Atomica (AFM), per imaging topografico su scala nanometrica, rugosità superficiale, misure di durezza analizzando l’impronta d’indentazione.
La piattaforma NIOS è disponibile in tre versioni configurabili in funzione delle applicazioni richieste.

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