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Microscopia Elettronica

Mediante il sistema di microscopia SEM è possibile analizzare campioni e determinarne contemporaneamente la composizione elementare mediante sonda EDS, il microscopio permette di lavorare sia in vuoto che in condizioni di vuoto ridotto per consentire analisi di campioni non conduttori, diversi accessori consentono l'alloggiamento di campioni con varie caratteristiche e dimensioni, di effettuare rotazioni, tilt, scansioni di aree e analisi puntuale. Gli attuali programmi di elaborazione offrono misure di pori, particelle, fibre fornendo dati numerici e statistici completi in grado di caratterizzare completamente il campione analizzato.

Attraverso il SEM/EDS è possibile analizzare materiali metallici, ceramici e polimerici sia massivi, in polvere, come rivestimenti o superfici di frattura; l'analisi degli elementi fornisce informazioni semiquantitative di concentrazione e profili di concentrazione, mappe compositive, microanalisi puntuale.

La microscopia SEM-EDS permette di:   

- studiare la morfologia delle fasi cristalline, distribuzione e organizzazione delle fasi
- studiare la struttura cristallina
- studiare i difetti di reticolari

cog wheel from a watch

cog wheel from a watch

SEM-image-of-light-bulb

SEM-image-of-light-bulb

SEM-Image-of-sparkler

SEM-Image-of-sparkler

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